Аннотация. 

Данные о светорассеивающих свойствах поверхностей используются в современных средствах машинной графики для построения реалистичных физически аккуратных изображений, а также в системах проектирования сложных оптических устройств. Для получения таких данных необходимы высокоточные оптические измерения. В работе рассматривается аппаратно-программный комплекс, предназначенный для измерения спектрального и пространственного распределения света, рассеиваемого поверхностями. Прибор основан на оригинальной концепции, обеспечивающей одновременное измерение рассеяния в различных направлениях и высокое пространственное разрешение в критической области вблизи направления зеркального отражения. Для параллельного получения большого объема пространственной информации используется камера на ПЗС-матрице. В настоящее время прибор применяется в эксплуатационном режиме, с его помощью проведено большое количество измерений.